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潔凈車間裝修公司半導(dǎo)體行業(yè)潔凈度控制
在半導(dǎo)體器件晶圓的制造過程中,其易受外來物、灰塵粒子、金屬離子等外來物的影響而破壞表面結(jié)構(gòu)、電子特性等的產(chǎn)品特點(diǎn)決定了 其制造過程必須有潔凈度的要求,而經(jīng)過長期的實(shí)踐分析,我們發(fā)現(xiàn)在半導(dǎo)體晶圓測試的過程中,測試間也必須置于潔凈室中,潔凈度的控制也同樣重要。潔凈室的潔凈度控制不好時(shí),會(huì)導(dǎo)致空氣中的含塵量過高,從而導(dǎo)致外來物的增加,進(jìn)而影響測試時(shí)的良率和穩(wěn)定性甚至?xí)?dǎo)致探針測試卡的損壞。
潔凈車間最主要之作用在于控制產(chǎn)品(如硅芯片等)所接觸之大氣 的潔凈度及溫濕度,使產(chǎn)品能在一個(gè)良好之環(huán)境空間中生產(chǎn)、制造, 此空間我們稱之為潔凈室。按照國際慣例,無塵凈化級(jí)別主要是根據(jù)每立方米空氣中粒子直徑大于劃分標(biāo)準(zhǔn)的粒子數(shù)量來規(guī)定。也就是 說所謂無塵并非100%沒有一點(diǎn)灰塵,而是控制在一個(gè)非常微量的單位上。
晶圓測試時(shí)常見的外來物問題
當(dāng)潔凈車間的潔凈度控制沒有嚴(yán)格按照要求執(zhí)行時(shí),我們發(fā)現(xiàn)在晶 圓測試過程中,除了良率不佳及測試不穩(wěn)定外,在探針測試卡上還經(jīng)常會(huì)發(fā)現(xiàn)外來物的存在,有些甚至是肉眼可見的。 這些肉眼可見的外來物,嚴(yán)重時(shí)甚至?xí)?dǎo)致探針測試卡的損毀、晶圓 的報(bào)廢,帶來較大損失。
問題分析及改善措施
針對(duì)這一問題,經(jīng)過半年的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì),我們發(fā)現(xiàn)探針測試上出現(xiàn) 過外來物共45起,幾乎在所有的測試機(jī)臺(tái)上都出現(xiàn)過這亠問題,但是 通過對(duì)事故高發(fā)機(jī)臺(tái)及機(jī)臺(tái)在測試間的位置分布的進(jìn)一步分析,可以 發(fā)現(xiàn)外來物的出現(xiàn)有如下規(guī)律:
人員走動(dòng)頻繁的區(qū)域更易出現(xiàn)外來物。
離潔凈車間出口近的機(jī)臺(tái)更易出現(xiàn)外來物。
有大電壓、大電流測試的機(jī)臺(tái)更易出現(xiàn)外來物。
依據(jù)這一分析結(jié)果,為進(jìn)一步更加嚴(yán)格控制潔凈室的潔凈度以達(dá) 到減少外來物的目的,除要求工作人員嚴(yán)格遵守常規(guī)進(jìn)出潔凈室的規(guī)定外,采取了如下改進(jìn)措施:
蛍出車間必須進(jìn)行風(fēng)淋20秒。
口罩、手套每兩小時(shí)更換一次。
潔凈室釆取里外間,以緩沖人員頻繁走動(dòng)帶來的外來物。
增加測試機(jī)臺(tái)定期維護(hù)的頻率,定期維護(hù)時(shí)必須對(duì)機(jī)臺(tái)內(nèi)部用潔凈室專用吸塵器進(jìn)行清潔"吸塵器的濾芯需定期更換。
探針測試卡非生產(chǎn)狀態(tài)時(shí)使用專用卡盒保護(hù),卡和卡盒都需定期清潔,且使用前后都要檢査有無外來物的存在并及時(shí)清潔。
經(jīng)過一段時(shí)間的跟蹤觀察,以上改善措施收到了良好的結(jié)果,探針測試卡上的外來物大大減少,測試的良率及穩(wěn)定性均得到改善。
結(jié)論
潔凈車間的潔凈度控制在半導(dǎo)體的整個(gè)工藝過程中都極為重要。在前期晶圓制造的過程中,它起著至關(guān)重要的作用,沒有潔凈室,我們就無法進(jìn)行生產(chǎn)。而在后段晶圓測試等的過程中,雖然它不會(huì)像前段 一樣起著決定性的作用,但是如果管理控制不好,同樣會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品的 損毀及報(bào)廢,帶來經(jīng)濟(jì)損失,所以我們一定要重視半導(dǎo)體測試間的潔凈度控制。
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